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Zu "Ellipsometrie" wurden 6 Produkte gefunden

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Vorderes Coverbild Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
Abbildende Ellipsometrie mit Lichtwegumkehrung für die optische Charakterisierung von gekrümmten Oberflächen
49,00 €*
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Vorderes Coverbild Ellipso-Höhentopometrie zur Charakterisierung von technischen Oberflächen mit Materialkontrast
Ellipso-Höhentopometrie zur Charakterisierung von technischen Oberflächen mit Materialkontrast
34,90 €*
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Vorderes Coverbild Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
42,00 €*
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Vorderes Coverbild Pump-Probe-Ellipsometrie zur Messung transienter optischer Materialeigenschaften bei der Ultrakurzpuls-Lasermaterialbearbeitung
Pump-Probe-Ellipsometrie zur Messung transienter optischer Materialeigenschaften bei der Ultrakurzpuls-Lasermaterialbearbeitung
29,50 €*
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Vorderes Coverbild Spectroscopic ellipsometry of interfacial phase transitions in fluid metallic systems: Kx(KCl)1-x and Ga1-xBix
Spectroscopic ellipsometry of interfacial phase transitions in fluid metallic systems: Kx(KCl)1-x and Ga1-xBix
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Vorderes Coverbild Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
102,00 €*
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