Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials
Wee, Andrew T. S., Yin, Xinmao, Tang, Chi Sin
Produktnummer:
18eb383ab9e44d435a8bc0b8dcc3e9a456
| Autor: | Tang, Chi Sin Wee, Andrew T. S. Yin, Xinmao |
|---|---|
| Themengebiete: | Chemie Chemistry Dünne Schicht Ellipsometrie Festkörperchemie Materials Characterization Materials Science Materialwissenschaften Solid State Chemistry Spectroscopy |
| Veröffentlichungsdatum: | 13.04.2022 |
| EAN: | 9783527349517 |
| Auflage: | 1 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 208 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Wiley-VCH |
| Untertitel: | Instrumentation, Data Analysis and Applications |
Produktinformationen "Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials"
This book serves as an updated summary on the use of Spectrometric Ellipsometry with its practical usage in probing interfacial properties, electronic structures and quasiparticle properties of different classes of thin-film materials. Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen