X-Ray Structure Analysis
Siegrist, Theo
Produktnummer:
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| Autor: | Siegrist, Theo |
|---|---|
| Themengebiete: | Crystallography Group theory Symmetry X-ray diffraction |
| Veröffentlichungsdatum: | 22.11.2021 |
| EAN: | 9783110610703 |
| Auflage: | 1 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 240 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | De Gruyter |
Produktinformationen "X-Ray Structure Analysis"
This book offers a compact overview on crystallography, symmetry, and applications of symmetry concepts. The author explains the theory behind scattering and diffraction of electromagnetic radiation. X-ray diffraction on single crystals as well as quantitative evaluation of powder patterns are discussed.
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