X-Ray Multiple-Wave Diffraction
Chang, Shih-Lin
| Autor: | Chang, Shih-Lin |
|---|---|
| Themengebiete: | Kristall - Kristallisation - Kristallografie |
| Veröffentlichungsdatum: | 24.06.2004 |
| EAN: | 9783540211969 |
| Auflage: | 2004 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 448 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer Berlin Springer Berlin Heidelberg |
| Untertitel: | Theory and Application |
Produktinformationen "X-Ray Multiple-Wave Diffraction"
Provides an overview of advanced methods in x-ray diffraction from materialsSuitable as advanced textbook
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