Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System
Du, Xiong, Zhang, Jun, Li, Gaoxian, Yu, Yaoyi, Qian, Cheng, Du, Rui
Produktnummer:
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| Autor: | Du, Rui Du, Xiong Li, Gaoxian Qian, Cheng Yu, Yaoyi Zhang, Jun |
|---|---|
| Themengebiete: | Failure mechanism Junction temperature estimation Lifetime evaluation Thermal Reliability Thermal management Thermal parameters monitoring |
| Veröffentlichungsdatum: | 09.07.2022 |
| EAN: | 9789811931314 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 172 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer Singapore |
Produktinformationen "Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System"
This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.
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