Surface and Thin Film Analysis
Produktnummer:
18eb48b65ad7de47749747577923d7edf8
| Themengebiete: | Analytical Chemistry Analytische Chemie Chemie Chemie / Theoretische Chemie Chemische Analyse Chemistry Dünne Schicht Dünne Schichten, Oberflächen u. Grenzflächen Materials Characterization Materials Science |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 20.04.2011 |
| EAN: | 9783527320479 |
| Auflage: | 2 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 558 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Bubert, Henning Friedbacher, Gernot |
| Verlag: | Wiley-VCH |
| Untertitel: | A Compendium of Principles, Instrumentation, and Applications |
Produktinformationen "Surface and Thin Film Analysis"
Surveying and comparing all techniques relevant for practical applications in surface and thin film analysis, this second edition of a bestseller is a vital guide to this hot topic in nano- and surface technology. This new book has been revised and updated and is divided into four parts - electron, ion, and photon detection, as well as scanning probe microscopy. New chapters have been added to cover such techniques as SNOM, FIM, atom probe (AP),and sum frequency generation (SFG). Appendices with a summary and comparison of techniques and a list of equipment suppliers make this book a rapid reference for materials scientists, analytical chemists, and those working in the biotechnological industry. From a Review of the First Edition (edited by Bubert and Jenett)"... a useful resource..."(Journal of the American Chemical Society)
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