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Strain-Induced Effects in Advanced MOSFETs

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Produktnummer: 185e8a37dd57d14cf88296a33eaeed7274
Autor: Sverdlov, Viktor
Themengebiete: semiconductor devices strain technique transport modeling
Veröffentlichungsdatum: 24.11.2010
EAN: 9783709103814
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 252
Produktart: Gebunden
Verlag: Springer Wien
Produktinformationen "Strain-Induced Effects in Advanced MOSFETs"
Strain is used to boost performance of MOSFETs. Modeling of strain effects on transport is an important task of modern simulation tools required for device design. The book covers all relevant modeling approaches used to describe strain in silicon. The subband structure in stressed semiconductor films is investigated in devices using analytical k.p and numerical pseudopotential methods. A rigorous overview of transport modeling in strained devices is given.
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