Strain Effect in Semiconductors
Sun, Yongke, Nishida, Toshikazu, Thompson, Scott E.
| Autor: | Nishida, Toshikazu Sun, Yongke Thompson, Scott E. |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 20.11.2014 |
| EAN: | 9781489983152 |
| Auflage: | 2010 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 364 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Springer US Springer US, New York, N.Y. |
| Untertitel: | Theory and Device Applications |
Produktinformationen "Strain Effect in Semiconductors"
Provides industry relevant applications for strained CMOS technology Discusses range of applications from planar (2D) to nano-wire (1D) devices Treats strain physics at both qualitative overview level as well as detailed fundamental physics Explains strain physics relevant to logic devices as well as strain-based MEMS Sensors and strain in optoelectronic devices Includes supplementary material: sn.pub/extras
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