Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse (mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop)
Eggert, Frank
| Autor: | Eggert, Frank |
|---|---|
| Themengebiete: | Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie Technik / Allgemeines, Einführung, Lexikon |
| Veröffentlichungsdatum: | 17.02.2005 |
| EAN: | 9783833425998 |
| Auflage: | 001 |
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 188 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | BoD - Books on Demand Books on Demand GmbH |
| Untertitel: | Ein Handbuch für die Praxis |
Produktinformationen "Standardfreie Elektronenstrahl-Mikroanalyse (mit dem EDX im Rasterelektronenmikroskop)"
Fast jedes Elektronenmikroskop ist heute mit einem Röntgenspektrometer ausgestattet. Die Elektronenstrahl- Mikroanalyse (ESMA) ist damit zu einer sehr verbreiteten Methodik der Element- Analyse von Objekten in mikroskopischen Dimensionen geworden. Der Fokus auf die standardfreie Analytik gibt wertvolle Informationen für die ESMA ohne Beschränkung der Allgemeinheit. Standardfreie Analyse bedeutet das umfassende Verständnis der Wechselwirkungsprozesse. Dieses umfassende Verständnis eröffnet die Möglichkeit der Ableitung sehr einfacher Zusammenhänge (Formeln), der Optimierung der Anregungsbedingungen und der Simulation von Spektren. Damit richtet sich das Buch an alle Leser, die am Elektronenmikroskop forschen und arbeiten. Im Unterschied zu anderen Büchern über dieses Thema wird konsequent auf komplexe Formeln verzichtet. Es wurde Wert darauf gelegt, einfache Zusammenhänge in Form von Formeln zu zeigen, die auf jedem Taschenrechner nachvollziehbar sind. In grafischen Darstellungen werden Zusammenhänge für die tägliche praktische Arbeit demonstriert. Für den tiefer interessierten Leser wird auf die Herleitungen der jeweiligen Formeln im Anhang verwiesen und eine Simulationssoftware zum Download im Internet bereitgestellt.
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