Zum Hauptinhalt springen Zur Suche springen Zur Hauptnavigation springen

Um unseren Shop in vollem Umfang nutzen zu können, empfehlen wir Ihnen Javascript in Ihrem Browser zu aktivieren.

Haben Sie Fragen? Einfach anrufen, wir helfen gerne: Tel. 089/210233-0

oder besuchen Sie unser Ladengeschäft in der Pacellistraße 5 (Maxburg) 80333 München

+++ Versandkostenfreie Lieferung innerhalb Deutschlands

Haben Sie Fragen? Tel. 089/210233-0

Ihr Konto

Anmelden

oder registrieren

Übersicht Persönliches Profil Adressen Zahlungsarten Bestellungen Kreditkarten

JURISTISCHE LITERATUR

STUDIENLITERATUR

Mein Bibliothekar

INFORMATIONEN

Prüfungszugelassene Titel

AGB

Datenschutz

Kontakt

Impressum

Über Uns

Service

Home

JURISTISCHE LITERATUR
STUDIENLITERATUR
DATENBANKEN
BEHÖRDEN
BECK ONLINE
Mein Bibliothekar
INFORMATIONEN

Zu "defects" wurden 76 Produkte gefunden

Produkte filtern

Nur Neuerscheinungen

Birkhäuser Boston (1)
Springer Berlin (21)
Springer Netherland (13)
Springer US (41)

Gebunden (24)
Kartoniert / Broschiert (50)
Kassette / Medienmix z.B. Audio und Buch (2)

Allen, K.W. (1)
Baker, A. Jones (2)
Benedek, Giorgio (1)
Bishay, Adlai (1)
Borstel, Gunnar Krumins, Andris Millers, Donats (2)
Bradt, R.C. Tressler, R.E. (2)
Breysse, Denys (2)
Brodsky, Marc H. (1)
Deal, B.E. Helms, C.R. (2)
Drabold, David A. Estreicher, Stefan (2)
Eberl, K. Petroff, Pierre M. Demeester, Piet (2)
Fahrner, Wolfgang (2)
Gan-Moog Chow Noskova, Nina Ivanovna (1)
Garfunkel, Eric Gusev, Evgeni Vul', Alexander (2)
Genzel, L. (1)
Guldberg, Jens (1)
Harbeke, G. (1)
Jain, Suresh Willander, Magnus Van Overstraeten, R. (2)
Laude, L.D. (1)
Lehn, J.M. Rees, C.W. (1)
Levy, R.A. (1)
Madelung, Otfried (1)
McCall, J. (1)
McGill, T.C. Sotomayor Torres, C.M. Gebhardt, W. (1)
Otte, H. (1)
Pan, Lawrence S. Kania, Don R. (2)
Pryor, Roger W. Schwartz, Brian B. Ovshinsky, Stadford R. (1)
Rotman, Stanley R. (2)
Siffert, Paul Krimmel, Eberhard (2)
Srolovitz, David J. Vitek, V. (1)
Takahashi, Kiyoshi Yoshikawa, Akihiko Sandhu, Adarsh (2)
Wood, Colin Jena, Debdeep (2)

Ahmed, Nisar (2)
Bilz, H. Strauch, D. Wehner, R.K. (1)
Cerofolini, Gianfranco F. Meda, Laura (1)
Devine, Roderick A.B. (1)
Dobrovinskaya, Elena R. Lytvynov, Leonid A. Pishchik, Valerian (2)
Dorey, A.P. Jones, B.K. Richardson, A.M.D. Xu, Y.Z. (1)
Graff, Klaus (2)
Ivchenko, Eougenious L. Pikus, Grigory (1)
Jaffee, Robert (1)
Krause-Rehberg, Reinhard Leipner, Hartmut S. (2)
Larrabee, Robert D. (1)
Neuberger, M. (2)
Perevostchikov, Victor A. Skoupov, Vladimir D. (2)
REES (1)
Sachdev, Manoj Pineda de Gyvez, José (2)
Simon, J. Andre, J.-J. (1)
Vere, A.W. (2)
Way Kuo Wei-Ting Kary Chien Taeho Kim (2)
Wolkenstein, T. (1)
Yacobi, B.G. (1)

1985 (1)
1988 (2)
1991 (1)
1993 (1)
1994 (1)
1995 (1)
1996 (1)
1998 (1)
1999 (1)
2000 (1)
2002 (1)
2004 (1)
2005 (1)
2006 (1)
2007 (1)
2009 (1)
2010 (1)
2011 (1)
2012 (1)
2013 (2)
2014 (2)
2016 (1)

Englisch (76)

HOME

1
2
3
4

Vorderes Coverbild Amorphous Semiconductors

Amorphous Semiconductors

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Disorder and Order in the Solid State

Disorder and Order in the Solid State

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Non-Destructive Assessment of Concrete Structures: Reliability and Limits of Single and Combined Techniques

Non-Destructive Assessment of Concrete Structures: Reliability and Limits of Single and Combined Techniques

160,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Light and Matter Id / Licht und Materie Id

Light and Matter Id / Licht und Materie Id

106,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Nanometer Technology Designs

Nanometer Technology Designs

106,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild III–V Semiconducting Compounds

III–V Semiconducting Compounds

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Recent Advances in Science and Technology of Materials

Recent Advances in Science and Technology of Materials

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Positron Annihilation in Semiconductors

Positron Annihilation in Semiconductors

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Low Dimensional Structures Prepared by Epitaxial Growth or Regrowth on Patterned Substrates

Low Dimensional Structures Prepared by Epitaxial Growth or Regrowth on Patterned Substrates

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Theory of Defects in Semiconductors

Theory of Defects in Semiconductors

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Defects and Transport in Oxides

Defects and Transport in Oxides

106,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Low Dimensional Structures Prepared by Epitaxial Growth or Regrowth on Patterned Substrates

Low Dimensional Structures Prepared by Epitaxial Growth or Regrowth on Patterned Substrates

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Non-Destructive Assessment of Concrete Structures: Reliability and Limits of Single and Combined Techniques

Non-Destructive Assessment of Concrete Structures: Reliability and Limits of Single and Combined Techniques

160,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Wide Bandgap Semiconductors

Wide Bandgap Semiconductors

235,39 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Atomistic Simulation of Materials

Atomistic Simulation of Materials

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Theory of Defects in Semiconductors

Theory of Defects in Semiconductors

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild The Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2

The Physics and Chemistry of SiO2 and the Si-SiO2 Interface 2

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Compound Semiconductors Strained Layers and Devices

Compound Semiconductors Strained Layers and Devices

160,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Crystal Growth

Crystal Growth

106,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Polarization Effects in Semiconductors

Polarization Effects in Semiconductors

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Adhesion 15

Adhesion 15

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Physical Chemistry of, in and on Silicon

Physical Chemistry of, in and on Silicon

53,49 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

213,99 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

Vorderes Coverbild Semiconductor Materials

Semiconductor Materials

117,69 €*

Preise inkl. MwSt. zzgl. Versandkosten

1
2
3
4

Buchhandlung Georg Blendl GmbH & Co KG
Buchhandlung und Antiquariat für Rechts- und Staatswissenschaften
Pacellistraße 5 (Maxburg)
80333 München
+049 89 210 233-0
+049 89 210 233-44
info@BGB-Online.de
ww.BGB-Online.de

Öffnungszeiten:
Montag bis Freitag
8:15 bis 18:00 Uhr

Samstag geschlossen

Online 24/7

JURISTISCHE LITERATUR
STUDIENLITERATUR
DATENBANKEN
BEHÖRDEN
BECK ONLINE
Mein Bibliothekar

AGB
Datenschutz
Kontakt
Impressum
Über Uns
Service

Diese Website verwendet Cookies, um eine bestmögliche Erfahrung bieten zu können. Mehr Informationen ...