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INFORMATIONEN
Zu "Scanning Tunnelling Microscope" wurde 1 Produkt gefunden
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Nur Neuerscheinungen
Verlag
Springer International Publishing (1)
Produktart
Kartoniert / Broschiert (1)
Autor
Ostadhassan, Mehdi Liu, Kouqi Li, Chunxiao Khatibi, Seyedalireza (1)
Themengebiete
Atomic Force Microscopy (AFM), Peak Force AFM (1)
Kerogen and Mineralogy (1)
Nano Pores (1)
Nanoindentation and Nano Mechanical Properties (1)
Raman Spectroscopy (1)
Scanning Electron Microscopy (1)
Scanning Tunnelling Microscope (1)
Shale Gas (1)
Thermal Maturity and XRF-XRD Analysis (1)
Upscaling, Lacunarity and Fractals (1)
Veröffentlichungsdatum
2018 (1)
Sprache
Englisch (1)
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Erscheinungsdatum
Name A-Z
Name Z-A
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Fine Scale Characterization of Shale Reservoirs
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