Scanning Probe Microscopy
Kalinin, Sergei V., Gruverman, Alexei
Produktnummer:
1892dc139b05b649a997e10804eea5e47c
| Autor: | Gruverman, Alexei Kalinin, Sergei V. |
|---|---|
| Themengebiete: | AFM KLTcatalog Microscopy Nanotube PED Polymer REM STEM STM carbon nanotubes |
| Veröffentlichungsdatum: | 18.12.2006 |
| EAN: | 9780387286679 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 980 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer US |
| Untertitel: | Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale |
Produktinformationen "Scanning Probe Microscopy"
Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.
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