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Scanning Probe Microscopy

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Produktnummer: 182d502f79f0364956bc6dc2e127c61272
Autor: Gruverman, Alexei Kalinin, Sergei V.
Themengebiete: AFM KLTcatalog Microscopy Nanotube PED Polymer REM STEM STM carbon nanotubes
Veröffentlichungsdatum: 04.11.2016
EAN: 9781493950362
Auflage: 1
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 980
Produktart: Kassette / Medienmix z.B. Audio und Buch
Verlag: Springer US
Untertitel: Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
Produktinformationen "Scanning Probe Microscopy"
This volume will be devoted to the technical aspects of electrical and electromechanical SPM probes and SPM imaging on the limits of resolution, thus providing technical introduction into the field. This volume will also address the fundamental physical phenomena underpinning the imaging mechanism of SPMs. Scanning Probe Microscopy brings up to date a constantly growing knowledge base of electrical and electromechanical characterization at the nanoscale. This comprehensive, two-volume set presents practical and theoretical issues of advanced scanning probe microscopy (SPM) techniques ranging from fundamental physical studies to device characterization, failure analysis, and nanofabrication. Volume 1 focuses on the technical aspects of SPM methods ranging from scanning tunneling potentiometry to electrochemical SPM, and addresses the fundamental physical phenomena underlying the SPM imaging mechanism. Volume 2 concentrates on the practical aspects of SPM characterization of a wide range of materials, including semiconductors, ferroelectrics, dielectrics, polymers, carbon nanotubes, and biomolecules, as well as on SPM-based approaches to nanofabrication and nanolithography.
Bücherregal gefüllt mit juristischen Werken

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