Scanning Probe Microscopy
| Themengebiete: | Materialprüfung Nanotechnologie Technologie / Nanotechnologie |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 16.04.1998 |
| EAN: | 9783540638155 |
| Auflage: | 1998 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 232 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Wiesendanger, Roland |
| Verlag: | Springer-Verlag GmbH Springer Berlin Heidelberg |
| Untertitel: | Analytical Methods |
Produktinformationen "Scanning Probe Microscopy"
This reference book describes latest developments in high resolution microscopy.It includes new results in the field of scanning probe microscopy.Also it provides an overview of the analytical methods on microscopic and analytical methods.
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