Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems
Produktnummer:
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| Themengebiete: | Orbital Ordering Resonant X-ray Scattering Scattering Transition Metal Oxides Strongly Correlated Electron Systems X-ray Diffraction X-ray Scattering Oxides |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 07.07.2018 |
| EAN: | 9783662571224 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 241 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Herausgeber: | Ishihara, Sumio Murakami, Youichi |
| Verlag: | Springer Berlin |
Produktinformationen "Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems"
The research and its outcomes presented here is devoted to the use of x-ray scattering to study correlated electron systems and magnetism. Different x-ray based methods are provided to analyze three dimensional electron systems and the structure of transition-metal oxides. Finally the observation of multipole orderings with x-ray diffraction is shown.
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