Residual Stress
Noyan, Ismail C., Cohen, Jerome B.
Produktnummer:
185045aaedf1df4c1bb683aa901de6ea92
| Autor: | Cohen, Jerome B. Noyan, Ismail C. |
|---|---|
| Themengebiete: | Absorption Fitting Goniometer Hardware Industrie Information Kristallographie Monochromator Peak Profil |
| Veröffentlichungsdatum: | 01.07.2012 |
| EAN: | 9781461395713 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 276 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Springer US |
| Untertitel: | Measurement by Diffraction and Interpretation |
Produktinformationen "Residual Stress"
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen