Reliability Physics and Engineering
McPherson, J. W.
| Autor: | McPherson, J. W. |
|---|---|
| Themengebiete: | Bauelement (elektronisch) - Baustein (elektronisch) Elektrogerät Elektronik / Bauelemente Elektronik / Gerät Elektronik / Schaltung Fertigungstechnik Kontrolle (wirtschaftlich) / Qualitätskontrolle Management / Qualitätsmanagement QMS - Qualitätsmanagementsystem Qualitätskontrolle Qualitätsmanagement Schaltung - Grundschaltung Standardschaltung Zuverlässigkeit |
| Veröffentlichungsdatum: | 10.01.2019 |
| EAN: | 9783319936826 |
| Auflage: | 003 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 484 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer Springer International Publishing Springer International Publishing AG |
| Untertitel: | Time-To-Failure Modeling |
Produktinformationen "Reliability Physics and Engineering"
Provides comprehensive textbook on reliability physics of semiconductors, from fundamentals to applications Explains the fundamentals of reliability physics and engineering tools for building better products Contains statistical training and tools within the text Includes new chapters on Physics of Degradation, and Resonance and Resonance-Induced Degradation.
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