Plasma Charging Damage
Cheung, Kin P.
Autor: | Cheung, Kin P. |
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Veröffentlichungsdatum: | 30.08.2012 |
EAN: | 9781447110620 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 364 |
Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
Verlag: | Springer London |
Produktinformationen "Plasma Charging Damage"
The only book of its kind - the only competition on subject matter comes from a Japanese language text to which this author is also a contributorIt is neither as coherent nor as comprehensive as the current textThe books readership runs the whole gamut of experience in the subjectThe author works at AT&T's Bell Laboratories in New JerseyThis laboratory is a world leader in many areas of technology

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