Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie
Produktnummer:
18fcef7156ad8846179661edc798664e99
| Themengebiete: | Elektronenmikroskopie Optik Physik angewandte Physik |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 01.01.1997 |
| EAN: | 9783519032212 |
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 320 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Vieweg & Teubner |
Produktinformationen "Physikalische Grundlagen der Elektronenmikroskopie"
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