Physical Principles of Electron Microscopy
Egerton, R.F.
Produktnummer:
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Autor: | Egerton, R.F. |
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Themengebiete: | Analytical Electron Microscopy Biological Microscopy Electron Microscope Electron Microscopy Textbook Optical Microscope Scanning Electron Microscope Scanning Transmission Electron Microscope Transmission Electron Microscopy X-ray Emission Spectroscopy |
Veröffentlichungsdatum: | 30.05.2018 |
EAN: | 9783319819860 |
Auflage: | 2 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 196 |
Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
Verlag: | Springer International Publishing |
Untertitel: | An Introduction to TEM, SEM, and AEM |
Produktinformationen "Physical Principles of Electron Microscopy"

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