OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
Beyerer, Jürgen [Hrsg.]
Produktnummer:
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| Autor: | Beyerer, Jürgen [Hrsg.] |
|---|---|
| Themengebiete: | Food Inspection KCM Material Signatur Materialerkennung Messdatenverarbeitung Schüttgutsortierung Spectral Data Processing Spektral Waste and Plastic Recycling |
| Veröffentlichungsdatum: | 18.03.2015 |
| EAN: | 9783731503187 |
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 298 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | KIT Scientific Publishing |
Produktinformationen "OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings"
Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.
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