Noncontact Atomic Force Microscopy
Produktnummer:
18633e80b46a4a438ca1ba3f7425e4ee45
| Themengebiete: | AFM Bias Helium-Atom-Streuung Noncontact atomic True atomic resolution deformation experiment measurement microscopy oxides |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 23.10.2012 |
| EAN: | 9783642627729 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 440 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Herausgeber: | Meyer, E. Morita, S. Wiesendanger, Roland |
| Verlag: | Springer Berlin |
Produktinformationen "Noncontact Atomic Force Microscopy"
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen