Modern X-Ray Analysis on Single Crystals
Luger, Peter
Autor: | Luger, Peter |
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Themengebiete: | Atomphysik Chemie Festkörperphysik Kernphysik - Kern (Atomkern) Kristall - Kristallisation - Kristallografie Petrologie Physik / Atomphysik, Kernphysik Röntgen - Röntgenstrahlen - Röntgenologie X-Strahlen |
Veröffentlichungsdatum: | 20.02.2024 |
EAN: | 9783110308235 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 348 |
Produktart: | Gebunden |
Verlag: | De Gruyter de Gruyter, Walter, GmbH |
Untertitel: | A Practical Guide |
Produktinformationen "Modern X-Ray Analysis on Single Crystals"
This completely revised edition is a guide for practical work in X-ray analysis. Experimental developments e.g. brilliant X-ray sources, area detection, and developments in computer hardware and software have led to increasing applications in X-ray analysis. An introduction to basic crystallography moves quickly to a practical and experimental treatment of structure analysis. Essential reading from the student to the professional level.

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