Microscopy of Semiconducting Materials
| Themengebiete: | Halbleiter / Physik Materialprüfung |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 10.04.2006 |
| EAN: | 9783540319146 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 556 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Cullis, A. G. Hutchison, John L. |
| Verlag: | Springer Springer-Verlag GmbH |
| Untertitel: | Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK |
Produktinformationen "Microscopy of Semiconducting Materials"
Epitaxy: Wide Band-Gap Nitrides.- Epitaxy: Silicon-Germanium Alloys.- Epitaxy: Growth and Defect Phenomena.- High Resolution Microscopy and Nanoanalysis.- Self-Organised and Quantum Domain Structures.- Processed Silicon and Other Device Materials.- Device Studies.- Scanning Electron and Scanning Probe Advances.
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen