Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
Celano, Umberto
Produktnummer:
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| Autor: | Celano, Umberto |
|---|---|
| Themengebiete: | 3D Metrology AFM Tomography C-AFM Conductive Bridging Memory CBRAM Conductive Filaments Ionic Devices RRAM Resistive Switching Scalpel SPM |
| Veröffentlichungsdatum: | 24.06.2016 |
| EAN: | 9783319395302 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 175 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer International Publishing |
Produktinformationen "Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices"
This thesis presents the first direct observations of the 3D-shape, size and electrical properties of nanoscale filaments, made possible by a new Scanning Probe Microscopy-based tomography technique referred to as scalpel SPM. Using this innovative technology and nm-scale observations, the author achieves essential insights into the filament formation mechanisms, improves the understanding required for device optimization, and experimentally observes phenomena that had previously been only theoretically proposed.
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