MEMS Reliability
Hartzell, Allyson L., da Silva, Mark G., Shea, Herbert R.
Produktnummer:
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| Autor: | Hartzell, Allyson L. Shea, Herbert R. da Silva, Mark G. |
|---|---|
| Themengebiete: | MEMS MEMS reliability design for reliability design strategies failure analysis failure mechanisms packaging and testing process development and characterization |
| Veröffentlichungsdatum: | 27.12.2012 |
| EAN: | 9781461427360 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 291 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Springer US |
Produktinformationen "MEMS Reliability"
The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competitive advantage and are reluctant to share it.MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.
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