Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme in rekonfigurierbaren Montageumgebungen
Nicksch, Christoph
Produktnummer:
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| Autor: | Nicksch, Christoph |
|---|---|
| Themengebiete: | Large-Scale Metrology Messtechnik und Qualität Messunsicherheit Model-based Systems |
| Veröffentlichungsdatum: | 20.03.2023 |
| EAN: | 9783985551521 |
| Auflage: | 1 |
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 204 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Apprimus Verlag |
Produktinformationen "Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme in rekonfigurierbaren Montageumgebungen"
Die Montage von Großbauteilen erfordert dein Einsatz verteilter Large-Scale Metrology Systeme, um Montagetoleranzen im Submillimeterbereich prüfen zu können. In der Forschungsarbeit wird ein Optimierungsalgorithmus zur Konfiguration verteilter Large-Scale Metrology Systeme für Anwendungen in der Großbauteilmontage entwickelt. Hierbei wird die Messunsicherheit als Zielgröße der Optimierung verwendet, um die Prozessfähigkeit des Messprozesses mittels einer Simulation a-priori bestimmen zu können.
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