International Conference on Silicon Carbide and Related Materials ICSCRM 2022
Produktnummer:
189e3c4e519c7b480280f14949e23a5d50
| Themengebiete: | Basal Plane Dislocation Chemical Vapor Deposition Crystal Defect Inspection Diode Dislocation Doping Electrical Properties Epitaxial Growth Etching |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 15.06.2023 |
| EAN: | 9783036401676 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 836 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Herausgeber: | Grossner, Ulrike Marek, Juraj Pobegen, Gregor |
| Verlag: | Trans Tech |
Produktinformationen "International Conference on Silicon Carbide and Related Materials ICSCRM 2022"
Selected peer-reviewed extended articles based on abstracts presented at the 19th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials (ICSCRM) 2022Aggregated Book
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen