Integrated Circuit Test Engineering
Grout, Ian A.
| Autor: | Grout, Ian A. |
|---|---|
| Themengebiete: | Logikschaltung Optimierung |
| Veröffentlichungsdatum: | 22.08.2005 |
| EAN: | 9781846280238 |
| Auflage: | 2006 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 396 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Springer-Verlag London Ltd. Springer London |
| Untertitel: | Modern Techniques |
Produktinformationen "Integrated Circuit Test Engineering"
Taking a three-pronged approach ¿ test engineering from traditional-test, design and manufacturing view-points ¿ Integrated Circuit Test Engineering encapsulates the subject as it stands today. After introductory background from basic testing rules to trends in technology, the reader learns about: fabrication processes; a complete range of detailed tests and procedures; how to design for testability; fault simulation; automatic test equipment and the economics of testing. The text incudes: ¿ Worked examples and exercises, well-organized references and bibliography. ¿ An introduction to the use of various software and languages such as MATLAB®, Spice, Verilog®-HDL and VHDL. ¿ A series of experiments based on material downloaded from springeronline.com showing how to construct a hardware test arrangement for MS Windows PCs. This book is a practical tool for advanced undergraduate and graduate electronic engineering students, a resource for their tutors and a guide for the practising electronic engineer.
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