Industrial X-Ray Computed Tomography
| Themengebiete: | Arbeitsstoff Atomphysik Berufsbildung Bildung / Berufsbildung Elektrogerät Elektronik / Gerät Kernphysik - Kern (Atomkern) Maschinenbau Material Materialprüfung Optik Physik / Atomphysik, Kernphysik Technik Tomographie Werkstoff |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 27.10.2017 |
| EAN: | 9783319595719 |
| Auflage: | 001 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 380 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Carmignato, Simone Dewulf, Wim Leach, Richard |
| Verlag: | Palgrave Macmillan Springer Springer International Publishing AG |
Produktinformationen "Industrial X-Ray Computed Tomography"
Complete reference in X-Ray computed tomography (CT) Presents a special chapter on the calibration of CT systems The procedures for metrological performance verification are highlighted
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