In-situ Electron Microscopy
Produktnummer:
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Themengebiete: | Analyse u. Charakterisierung von Nanosystemen Analysis/Characterization of Nanosystems Analytische Chemie Chemie Chemistry Elektronenmikroskopie Materials Characterization Materials Science Materialwissenschaften Microscopy |
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Veröffentlichungsdatum: | 26.04.2012 |
EAN: | 9783527319732 |
Auflage: | 1 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 402 |
Produktart: | Gebunden |
Herausgeber: | Dehm, Gerhard Howe, James M. Zweck, Josef |
Verlag: | Wiley-VCH |
Untertitel: | Applications in Physics, Chemistry and Materials Science |
Produktinformationen "In-situ Electron Microscopy"
Adopting a didactical approach from fundamentals to actual experiments and applications, this handbook and ready reference coversreal-time observations using modern scanning electron microscopy and transmission electron microscopy, while also providing informationon the required stages and samples. The text begins with introductory material and the basics, before describing advancements and applications in dynamic transmission electron microscopy and reflection electron microscopy. Subsequently, the techniques needed to determine growth processes, chemical reactions and oxidation, irradiation effects, mechanical, magnetic, and ferroelectric properties as well as cathodoluminiscence and electromigration are discussed. Von den Grundlagen über das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Phänomenen bis hinunter zum Nanomaßstab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen Überblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; außerdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung.

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