Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials
Dong, Xingchen
Produktnummer:
18415e23a3269a4a7eb7c1f4ddc0bb152d
| Autor: | Dong, Xingchen |
|---|---|
| Themengebiete: | Chemie Elektrotechnik, Elektronik Ingenieurwissenschaften hyperspectral imaging layer thickness microscopy multivariate analysis two-dimensional materials |
| Veröffentlichungsdatum: | 28.03.2022 |
| EAN: | 9783844085174 |
| Auflage: | 1 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 173 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Verlag: | Shaker |
Produktinformationen "Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials"
Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materials
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