Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials
Dong, Xingchen
Produktnummer:
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Autor: | Dong, Xingchen |
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Themengebiete: | Chemie Elektrotechnik, Elektronik Ingenieurwissenschaften hyperspectral imaging layer thickness microscopy multivariate analysis two-dimensional materials |
Veröffentlichungsdatum: | 28.03.2022 |
EAN: | 9783844085174 |
Auflage: | 1 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 173 |
Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
Verlag: | Shaker |
Produktinformationen "Hyperspectral Imaging Microscopy for Atomic Layer Mapping of Two-Dimensional Materials"
Reports on hyperspectral imaging microscopy techniques for atomic layer mapping of two-dimensional materials

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