Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices
| Themengebiete: | Elektronik / Mikroelektronik Mikroelektronik |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 27.11.2014 |
| EAN: | 9783319089935 |
| Auflage: | 2015 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 528 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Grasser, Tibor |
| Verlag: | Springer International Publishing Springer International Publishing AG Springer Nature Switzerland |
Produktinformationen "Hot Carrier Degradation in Semiconductor Devices"
This book provides readers with a variety of tools to address the challenges posed by hot carrier degradation, one of today¿s most complicated reliability issues in semiconductor devices. Coverage includes an explanation of carrier transport within devices and book-keeping of how they acquire energy (¿become hot¿), interaction of an ensemble of colder and hotter carriers with defect precursors, which eventually leads to the creation of a defect, and a description of how these defects interact with the device, degrading its performance.
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen