Hands-On Value-at-Risk and Expected Shortfall
Auer, Martin
Produktnummer:
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Autor: | Auer, Martin |
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Themengebiete: | Capital markets Filtered VaR Historical VaR Internal market risk model Monte Carlo Stress test VaR backtesting VaR validation quantitative finance |
Veröffentlichungsdatum: | 06.06.2019 |
EAN: | 9783319891705 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 169 |
Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
Verlag: | Springer International Publishing |
Untertitel: | A Practical Primer |
Produktinformationen "Hands-On Value-at-Risk and Expected Shortfall"

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