Entwicklung eines Röntgenmikroskops für Photonenenergien von 15 keV bis 30 keV
Marschall, Felix
Produktnummer:
18af824c955b7946bf8aaa6f5e4208871b
Autor: | Marschall, Felix |
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Themengebiete: | Mikrostrukturtechnik Optik X-ray microscopy Röntgenmikroskopie Vollfeldmikroskopie full-field-microscopy microstructure technology optics refractive lens refraktive Linse |
Veröffentlichungsdatum: | 29.09.2014 |
EAN: | 9783731502630 |
Sprache: | Deutsch |
Seitenzahl: | 154 |
Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
Verlag: | KIT Scientific Publishing |
Produktinformationen "Entwicklung eines Röntgenmikroskops für Photonenenergien von 15 keV bis 30 keV"
Röntgenstrahlung wird in vielen Forschungsbereichen als Analysewerkzeug eingesetzt. Durch die Verwendung abbildender Linsen kann in der Röntgenvollfeldmikroskopie unabhängig von den Quelleigenschaften eine hohe Auflösung erreicht werden. Mit einer Objektivlinse mit 100 mm Brennweite kann bei 30 keV eine theoretische Auflösung von 60 nm erreicht werden. In Experimenten ist bei 17,4 keV und 30 keV bereits eine Auflösung von 200 nm über ein Bildfeld von 80 µm × 80 µm nachgewiesen worden.

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