EMC 2008
Produktnummer:
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| Themengebiete: | calculus electron electron microscopy electron optics microscopy optics scanning electron microscopy |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 23.08.2016 |
| EAN: | 9783662502259 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 862 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Herausgeber: | Luysberg, Martina Tillmann, Karsten Weirich, Thomas |
| Verlag: | Springer Berlin |
| Untertitel: | Vol 1: Instrumentation and Methods |
Produktinformationen "EMC 2008"
Proceedings of the14th European Microscopy Congress, held in Aachen, Germany, 1-5 September 2008. Jointly organised by the European Microscopy Society (EMS), the German Society for Electron Microscopy (DGE) and the local microscopists from RWTH Aachen University and the Research Centre Jülich, the congress brings together scientists from Europe and from all over the world. The scientific programme covers all recent developments in the three major areas of instrumentation and methods, materials science and life science.
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