Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links
Hong, Dongwoo, Cheng, Kwang-Ting
Produktnummer:
186d45ce92cf0840f79122db0c5e3e7646
| Autor: | Cheng, Kwang-Ting Hong, Dongwoo |
|---|---|
| Themengebiete: | BER Estimation Clock and Data Recovery (CDR) Design-for-Test (DFT) Hardware High Speed IO Test Integrated Circuits Interface Jitter Measurement |
| Veröffentlichungsdatum: | 07.12.2009 |
| EAN: | 9789048134427 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 98 |
| Produktart: | Gebunden |
| Verlag: | Springer Netherland |
Produktinformationen "Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links"
Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links describes in detail several new and promising techniques for cost-effectively testing high-speed interfaces with a high test coverage. One primary focus of Efficient Test Methodologies for High-Speed Serial Links is on efficient testing methods for jitter and bit-error-rate (BER), which are widely used for quantifying the quality of a communication system. Various analysis as well as experimental results are presented to demonstrate the validity of the presented techniques.
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