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Digital System Test and Testable Design

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Produktnummer: 18e33d4c60ea7141d489b274f4d10e404a
Autor: Navabi, Zainalabedin
Themengebiete: BIST BIST Architetures Design for Test Digital System Test Electronic Testing Fault Modeling Fault Simulation HDL Hardware Description Language Memory Testing
Veröffentlichungsdatum: 20.12.2010
EAN: 9781441975478
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 435
Produktart: Gebunden
Verlag: Springer US
Untertitel: Using HDL Models and Architectures
Produktinformationen "Digital System Test and Testable Design"
Describes test methods in Verilog and PLI, which makes the methods more understandable and the gates possible to simulate Simulation of gate models allows fault simulation and test generation, while Verilog testbenches inject faults, evaluate fault coverage and apply new test patterns Describes DFT, compression, decompression, and BIST techniques in Verilog, which makes the hardware of the architectures easier to understand and allows simulation and evaluation of the testability methods
Bücherregal gefüllt mit juristischen Werken

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