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Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty

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Produktnummer: 18bb0f4f19681f41e391d0b772a3bfca3c
Autor: Hayes, John P. Krishnaswamy, Smita Markov, Igor L.
Themengebiete: Fault-tolerance Probabilistic logic Reliability Soft errors Uncertainty
Veröffentlichungsdatum: 15.10.2014
EAN: 9789400797987
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 124
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Verlag: Springer Netherland
Produktinformationen "Design, Analysis and Test of Logic Circuits Under Uncertainty"
Logic circuits are becoming increasingly susceptible to probabilistic behavior caused by external radiation and process variation. In addition, inherently probabilistic quantum- and nano-technologies are on the horizon as we approach the limits of CMOS scaling. Ensuring the reliability of such circuits despite the probabilistic behavior is a key challenge in IC design---one that necessitates a fundamental, probabilistic reformulation of synthesis and testing techniques. This monograph will present techniques for analyzing, designing, and testing logic circuits with probabilistic behavior.
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