Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden
Rauer, Miriam
Produktnummer:
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| Autor: | Rauer, Miriam |
|---|---|
| Themengebiete: | Computertomographie Leuchtdioden Lötverbindung Verbindungstechnik Zuverlässigkeit |
| Veröffentlichungsdatum: | 07.01.2019 |
| EAN: | 9783961471577 |
| Sprache: | Deutsch |
| Seitenzahl: | 209 |
| Produktart: | Buch |
| Verlag: | FAU University Press |
Produktinformationen "Der Einfluss von Poren auf die Zuverlässigkeit der Lötverbindungen von Hochleistungs-Leuchtdioden"
Um das gesamte Wertschöpfungspotenzial von LEDs ausnutzen zu können und einen vorzeitigen Ausfall zu vermeiden, ist eine qualitativ hochwertige Fügeverbindung zwischen LED und Substrat unabdingbar. In dieser Arbeit wird der Einfluss von Poren in Lötverbindungen auf die Zuverlässigkeit von Hochleistungs-Leuchtdioden mittels thermo-mechanischer und mechanischer Zuverlässigkeitstests sowie FEM-Simulationen untersucht.
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