Conductive Atomic Force Microscopy
Produktnummer:
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| Themengebiete: | Chemie Chemistry Dünne Schichten, Oberflächen u. Grenzflächen Electrical & Electronics Engineering Electronic Materials Elektronische Materialien Elektrotechnik u. Elektronik Materials Science Materialwissenschaften Microscopy |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 11.10.2017 |
| EAN: | 9783527340910 |
| Auflage: | 1 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 384 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Lanza, Mario |
| Verlag: | Wiley-VCH |
| Untertitel: | Applications in Nanomaterials |
Produktinformationen "Conductive Atomic Force Microscopy"
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