Bias Temperature Instability for Devices and Circuits
Produktnummer:
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| Themengebiete: | Metastable Defects in Semiconductor Devices Nanoscale MOSFETs Negative Bias Temperature Instability Semiconductor Device Lifetime Semiconductor Device Reliability Stochastic Behavior in Semiconductor Devices quality control, reliability, safety and risk |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 01.10.2016 |
| EAN: | 9781493955299 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 810 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Herausgeber: | Grasser, Tibor |
| Verlag: | Springer US |
Produktinformationen "Bias Temperature Instability for Devices and Circuits"
This book provides a single-source reference to one of the more challenging reliability issues plaguing modern semiconductor technologies, negative bias temperature instability. Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.
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