Zum Hauptinhalt springen Zur Suche springen Zur Hauptnavigation springen
Haben Sie Fragen? Einfach anrufen, wir helfen gerne: Tel. 089/210233-0
oder besuchen Sie unser Ladengeschäft in der Pacellistraße 5 (Maxburg) 80333 München
+++ Versandkostenfreie Lieferung innerhalb Deutschlands
Haben Sie Fragen? Tel. 089/210233-0

Applied Scanning Probe Methods III

117,69 €*

Versandkostenfrei

Produktnummer: 18e721885e22774d1ebacbbe5742dfe133
Themengebiete: AFM Fulleren Fullerene STEM ceramics microscopy nanoparticle polymer spectroscopy
Veröffentlichungsdatum: 12.02.2010
EAN: 9783642065965
Sprache: Englisch
Seitenzahl: 378
Produktart: Kartoniert / Broschiert
Herausgeber: Bhushan, Bharat Fuchs, Harald
Verlag: Springer Berlin
Untertitel: Characterization
Produktinformationen "Applied Scanning Probe Methods III"
The Nobel Prize of 1986 on Sc- ning Tunneling Microscopy sig- led a new era in imaging. The sc- ning probes emerged as a new i- trument for imaging with a pre- sion suf?cient to delineate single atoms. At ?rst there were two – the Scanning Tunneling Microscope, or STM, and the Atomic Force Mic- scope, or AFM. The STM relies on electrons tunneling between tip and sample whereas the AFM depends on the force acting on the tip when it was placed near the sample. These were quickly followed by the - gneticForceMicroscope,MFM,and the Electrostatic Force Microscope, EFM. The MFM will image a single magnetic bit with features as small as 10nm. With the EFM one can monitor the charge of a single electron. Prof. Paul Hansma at Santa Barbara opened the door even wider when he was able to image biological objects in aqueous environments. At this point the sluice gates were opened and a multitude of different instruments appeared. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM. The probe microscopes do not require preparation of the sample and they operate in ambient atmosphere, whereas, the SEM must operate in a vacuum environment and the sample must be cross-sectioned to expose the proper surface. However, the SEM can record 3D image and movies, features that are not available with the scanning probes.
Bücherregal gefüllt mit juristischen Werken

Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?

Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.

Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl

Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München

Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen