Advances in Scanning Probe Microscopy
Produktnummer:
18d7fdb92fc6974f85960d2c7f3ed64473
| Themengebiete: | AFM Adsorption Experiment Fulleren Fullerene REM STM |
|---|---|
| Veröffentlichungsdatum: | 27.03.2000 |
| EAN: | 9783540667186 |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 343 |
| Produktart: | Gebunden |
| Herausgeber: | Sakurai, T. Watanabe, Y. |
| Verlag: | Springer Berlin |
Produktinformationen "Advances in Scanning Probe Microscopy"
This book will be of interest to all those involved in using scanning probe microscopy and will help point the way towards new applications. Of particular interest is the manipulation of single atoms for producing future single-electron devices.
Sie möchten lieber vor Ort einkaufen?
Sie haben Fragen zu diesem oder anderen Produkten oder möchten einfach gerne analog im Laden stöbern? Wir sind gerne für Sie da und beraten Sie auch telefonisch.
Juristische Fachbuchhandlung
Georg Blendl
Parcellistraße 5 (Maxburg)
8033 München
Montag - Freitag: 8:15 -18 Uhr
Samstags geschlossen